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日照市6项目列入2017年度山东省重点建设项目
- 品牌：日立
- 型号： X-Strata920
- 产地：亚洲 日本
- 供应商报价：面议
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日立分析仪器（上海）有限公司
更新时间：2025-08-07 11:29:03 -
百度 后半段的三个托举、双人旋转、后外螺旋线都是高质量地完成。
销售范围售全国
入驻年限第10年
营业执照已审核
- 同类产品镀层厚度测量仪(5件)
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产品特点
- X-Strata920 是一款高精度台式 XRF 分析仪，具有多种选择，可容纳多种类型的样品。该分析仪非常适合测量各种基材上的镀层，是必须确定产品质量的电子产品、连接器、装饰品和珠宝分析的理想选择。
详细介绍
产品介绍：
X-Strata920 | 灵活多用途的台式XRF镀层测厚仪
精确的镀层和珠宝分析X-Strata920 是一款高精度台式 XRF 分析仪，具有多种选择，可容纳多种类型的样品。该分析仪非常适合测量各种基材上的镀层，是必须确定产品质量的电子产品、连接器、装饰品和珠宝分析的理想选择。X-Strata920 的优势在于其多功能性。您可以从多种配置中进行选择，包括五种基本配置以适应不同尺寸的样品、六种准直器尺寸用于优化分析不同尺寸的特征，以及有助于加快测量过程同时保持准确性的附加自动化功能。X-Strata920 易于使用，软件直观，可由非专业人员操作，并可轻松融入您的生产或质量保证部门。产品亮点
X-Strata920 具有多种选项和多功能性，可容纳各种样品，每次都能提供精确的分析。
适应性设计，可对各种产品进行可靠分析
自动对焦和可选的程控台提高了准确性和速度
直观的 SmartLink 软件使测量和导出数据变得容易
多准直器设计为每个样品提供高准确性
选择适合应用的比例计数器或硅漂移检测器 (SDD)
符合行业规范，例如 IPC-4552A、ISO3497、ASTM B568 和 DIN50987
简单的样品加载和快速分析可在几秒钟内提供结果
强大的光学分析单层和多层镀层，包括合金层
对比型号
X-Strata920 （正比计数器）
X-Strata920 （硅漂移探测器）
元素范围 Ti – U
Ai – U
样品舱设计 开槽式 开槽式 XY 轴样品台 固定台、加深台、自动台
固定台、加深台、自动台
最 大样品尺寸 250(宽)x200(深)x50(高)mm 250(宽)x200(深)x50(高)mm 最 大准直器数
6 6 最 大滤光片数
3 (secondary) n/a 最小准直器
0.01 x 0.25 mm (0.5 x 10 mil)
0.01 x 0.25 mm (0.5 x 10 mil)
最 大样品台行程
178 x 178 mm
178 x 178 mm
SmartLink 软件
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沪公网安备 31011502008050号